Microelectronics and reliability

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Detalles Bibliográficos
Título anterior:Electronics reliability & microminiaturization
Formato: Electrónico Revista
Lenguaje:inglés
Publicado: Oxford ; New York : Pergamon Press, ©1964-
Materias:
Acceso en línea:Available in Academic Search Ultimate.
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Descripción
Publicado:Vol 3, no. 1 (June 1964)-
Notas:Title from cover.
Frecuencia de Publicación:Monthly, <1997->
ISSN:1872-941X
0026-2714