Analyzing the Adversarial Robustness and Interpretability of Deep SAR Classification Models: A Comprehensive Examination of Their Reliability

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Argitaratua izan da:Remote Sensing vol. 17, no. 11 (2025), p. 1943
Egile nagusia: Chen Tianrui
Beste egile batzuk: Zhang Limeng, Guo Weiwei, Zhang Zenghui, Datcu Mihai
Argitaratua:
MDPI AG
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Citation/Abstract
Full Text + Graphics
Full Text - PDF
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!