Sistemas de medición : principios y aplicaciones /

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Beentley, John P.
Formaat: Boek
Gepubliceerd in: México : CECSA, 1993
Editie:2a. ed.
Onderwerpen:
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MARC

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245 |a Sistemas de medición :  |b principios y aplicaciones /  |c John P. Bentley 
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300 |a xiv, 572 p. :  |b il. ;  |c 25 cm. 
650 |a Mediciones-Instrumentos  |2 LEMB 
650 |a Medidas eléctricas  |2 LEMB 
592 |a Precisión de los sistemas de medición en el estado estable -- Caracteristicas dinamicas de los sistemas de medición -- Efectos de la carga en los sistemas de medición -- Señales y ruido en los sistemas de medición -- Confiabilidad, elección y economía de los sistemas de medición -- Elementos típicos en los sistemas de medición -- Sistemas de medición especializados. 
991 |a ing_silvia 
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952 |1 Disponible  |8 Colección General  |a Biblioteca de Ingeniería y Arquitectura  |b Biblioteca de Ingeniería y Arquitectura  |c Colección General  |d 2012-08-16  |i 15006976  |l 1  |o 621.38158 B477s  |p 15006976  |r 2014-04-23 00:00:00  |s 2014-04-23  |t 1  |w 2012-08-16  |y Books