Haugstad, G. (2012). Atomic force microscopy: Exploring basic modes and advanced applications. John Wiley & Sons.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
শিকাগো স্টাইল (17 তম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. Hoboken, N.J.: John Wiley & Sons, 2012.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
M.L.A (9 ম সংস্করণ) উদ্ধৃতি
Haugstad, Greg. Atomic Force Microscopy: Exploring Basic Modes and Advanced Applications. John Wiley & Sons, 2012.
ক্লিপবোর্ডে সফলভাবে কপি করা হয়েছে
ক্লিপবোর্ডে কপি করা যায়নি
সতর্কবাণী: সাইটেশন সবসময় 100% নির্ভুল হতে পারে না.