Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Hoboken, N.J. :
John Wiley & Sons,
[2012]
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/183811 Εμφάνιση στον Δημόσιο Κατάλογο |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|