Interface Fracture in Layered Materials and Blister Mechanics of Thin Films /

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux: Wang, Simon S. (Auteur), Harvey, Christopher M. (Auteur), Yuan, Bo (Auteur)
Format: Électronique eBook
Langue:anglais
Publié: Newcastle upon Tyne, England : Cambridge Scholars Publishing, [2024]
Édition:First edition.
Sujets:
Accès en ligne:https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/273052
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