Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Bustos Rodríguez, Humberto (autor.)
Otros Autores:	Oyola Lozano, Dagoberto (autor.), Rojas Martínez, Yebrail Antonio (autor.)
Formato:	eBook
Lenguaje:	español
Publicado:	Ibagué : Sello editorial Universidad del Tolima, 2024.
Materias:	Libros electrónicos. Ciencia. Mineralogía > Análisis. Microscopía. Espectrometría. Difracción de rayos X.
Acceso en línea:	https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/284052 Ver en el OPAC
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