Rueda P., J. E., & Lasprilla, M. C. (2006). Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos. Universidad de Pamplona.
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Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Rueda P., J. E., und M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Pamplona, Colombia: Universidad de Pamplona, 2006.
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MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Rueda P., J. E., und M. C. Lasprilla. Interferometría Por Corrimiento De Fase Para Caracterizar Materiales Electro-ópticos. Universidad de Pamplona, 2006.
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