Interferometría por corrimiento de fase para caracterizar materiales electro-ópticos
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Autor Corporativo: | |
| Otros Autores: | |
| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | español |
| Publicado: |
Pamplona, Colombia :
Universidad de Pamplona,
2006.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/5429 Ver en el OPAC |
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