Cavidades ópticas con perfil recto y parabólico del índice de refracción en láseres de AlGaAs e InGaN

En la tesis se presenta un estudio sobre la influencia que tiene en los parámetros ópticos de los láseres semiconductores de Al Ga x 1-x As e In Ga x 1-x N las características de la cavidad óptica, evaluándose los perfiles rectos y parabólicos del índice de refracción. Se concluye que para...

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Opis bibliograficzny
1. autor: Martín Alfonso, Juan Antonio
Korporacja: e-libro, Corp
Kolejni autorzy: Sánchez Colina, María (tut.), García Reina, Francisco (tut.)
Format: E-book
Język:hiszpański
Wydane: Ciudad de la Habana : Editorial Universitaria, 2007.
Hasła przedmiotowe:
Dostęp online:https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/90024
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