Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos /
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Otros Autores: | , |
| Formato: | Tesis eBook |
| Lenguaje: | español |
| Publicado: |
La Habana :
Editorial Universitaria,
2015.
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| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/90796 Ver en el OPAC |
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