Microelectronics and reliability

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Titre précédent:Electronics reliability & microminiaturization
Format: Électronique Revue
Langue:anglais
Publié: Oxford ; New York : Pergamon Press, ©1964-
Sujets:
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Description
Publié:Vol 3, no. 1 (June 1964)-
Description:Title from cover.
Fréquence de publication:Monthly, <1997->
ISSN:1872-941X
0026-2714