Verification methods for complex-functional blocks in CAD for chips deep submicron design standards

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	E3S Web of Conferences vol. 376 (2023), p. n/a
Hlavní autor:	Zolnikov, Vladimir
Další autoři:	Zolnikov, Konstantin, Ilina, Nadezhda, Grabovy, Kirill
Vydáno:	EDP Sciences
Témata:	Russia Very large scale integration Design standards Verification Circuit design Integrated circuits Software Semiconductors Environmental
On-line přístup:	Citation/Abstract Full Text - PDF
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!