A Distributed Conductance Tester Without Global Information Collection

מידע ביבליוגרפי

הוצא לאור ב:	arXiv.org (Mar 11, 2024), p. n/a
מחבר ראשי:	Batu, Tugkan
מחברים אחרים:	Trehan, Amitabh, Trehan, Chhaya
יצא לאור:	Cornell University Library, arXiv.org
נושאים:	Algorithms Mathematical models Model testing Graph theory Parameters Data collection Computer networks Distributed processing Random walk
גישה מקוונת:	Citation/Abstract Full text outside of ProQuest
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!