A Distributed Conductance Tester Without Global Information Collection

Opis bibliograficzny

Wydane w:	arXiv.org (Mar 11, 2024), p. n/a
1. autor:	Batu, Tugkan
Kolejni autorzy:	Trehan, Amitabh, Trehan, Chhaya
Wydane:	Cornell University Library, arXiv.org
Hasła przedmiotowe:	Algorithms Mathematical models Model testing Graph theory Parameters Data collection Computer networks Distributed processing Random walk
Dostęp online:	Citation/Abstract Full text outside of ProQuest
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!