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Computer-Vision-Based Product Quality Inspection and Novel Counting System

Guardado en:
Publicado en:Applied System Innovation vol. 7, no. 6 (2024), p. 127
Autor principal: Lee, Changhyun
Otros Autores: Kim, Yunsik, Kim, Hunkee
Publicado:
MDPI AG
Materias:
Accuracy
Load cells
Deep learning
Defects
Productivity
Quality control
Computer vision
Automation
Manufacturing
Product image
Image processing
Data compression
Efficiency
Cameras
Inspection
Neural networks
Algorithms
Data collection
Rotating bodies
Image quality
Real time
Counting
Cost control
Inventory management
Human error
Inventory
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