Machine-learning-assisted photonic device development: a multiscale approach from theory to characterization

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Publié dans:	Nanophotonics vol. 14, no. 23 (2025), p. 3761
Auteur principal:	Chen, Yuheng
Autres auteurs:	Alexander Montes McNeil, Park, Taehyuk, Wilson, Blake A, Iyer, Vaishnavi, Bezick, Michael, Jae-Ik Choi, Ojha, Rohan, Mahendran, Pravin, Singh, Daksh Kumar, Chitturi, Geetika, Chen, Peigang, Do, Trang, Kildishev, Alexander V, Shalaev, Vladimir M, Moebius, Michael, Cai, Wenshan, Liu, Yongmin, Boltasseva, Alexandra
Publié:	Walter de Gruyter GmbH
Sujets:	Machine learning Design optimization Data augmentation Quantum phenomena Control theory Data processing Multiscale analysis Measuring instruments Modelling Photonics Structural analysis Design parameters Numerical methods Optical properties
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