Pan, L., Huang, J., Zhang, J., Hongxiao, G., Wang, J., Daijiang, Z., . . . Jiwei, S. (2025). Multiscale Modeling of Thermo–Electro–Mechanical Coupling of BGA Solder Joints in Microelectronic Systems of Ruggedized Computers for Signal Integrity Analysis. Micromachines. https://doi.org/10.3390/mi16111292
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle Chicago (17th ed.)
Pan, Li, Jin Huang, Jie Zhang, Gong Hongxiao, Jianjun Wang, Zuo Daijiang, Su Mengyang, a Shi Jiwei. "Multiscale Modeling of Thermo–Electro–Mechanical Coupling of BGA Solder Joints in Microelectronic Systems of Ruggedized Computers for Signal Integrity Analysis."
Micromachines 2025. https://doi.org/10.3390/mi16111292.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Citace podle MLA (9th ed.)
Pan, Li, et al. "Multiscale Modeling of Thermo–Electro–Mechanical Coupling of BGA Solder Joints in Microelectronic Systems of Ruggedized Computers for Signal Integrity Analysis."
Micromachines, 2025, https://doi.org/10.3390/mi16111292.
Kopírování bylo úspěšné
Kopírování se nezdařilo
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..