Pan, L., Huang, J., Zhang, J., Hongxiao, G., Wang, J., Daijiang, Z., . . . Jiwei, S. (2025). Multiscale Modeling of Thermo–Electro–Mechanical Coupling of BGA Solder Joints in Microelectronic Systems of Ruggedized Computers for Signal Integrity Analysis. Micromachines. https://doi.org/10.3390/mi16111292
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Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Pan, Li, Jin Huang, Jie Zhang, Gong Hongxiao, Jianjun Wang, Zuo Daijiang, Su Mengyang, und Shi Jiwei. "Multiscale Modeling of Thermo–Electro–Mechanical Coupling of BGA Solder Joints in Microelectronic Systems of Ruggedized Computers for Signal Integrity Analysis."
Micromachines 2025. https://doi.org/10.3390/mi16111292.
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MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Pan, Li, et al. "Multiscale Modeling of Thermo–Electro–Mechanical Coupling of BGA Solder Joints in Microelectronic Systems of Ruggedized Computers for Signal Integrity Analysis."
Micromachines, 2025, https://doi.org/10.3390/mi16111292.
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