Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
"The book is concerned with the theory, background, and practical use of transmission electron microscopes with lens correctors that can correct the effects of spherical aberration. The book also covers a comparison with aberration correction in the TEM and applications of analytical aberration corr...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Άλλοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Hoboken, N.J. :
Wiley,
2011.
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/184007 Εμφάνιση στον Δημόσιο Κατάλογο |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια: Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
- Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics /
- Low voltage electron microscopy principles and applications /
- Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
- Microscopy research and technique
- Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications /
- Ultramicroscopy