Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Άλλοι συγγραφείς: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Hoboken, N.J. :
John Wiley &Sons, Inc., ;
2013.
London : ISTE, 2013. |
| Σειρά: | Nanoscience and nanotechnology series
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/187090 Εμφάνιση στον Δημόσιο Κατάλογο |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια: Transmission electron microscopy in micro-nanoelectronics /
- Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
- Low voltage electron microscopy principles and applications /
- Principles and practice of variable pressure/environmental scanning electron microscopy (VP-ESEM)
- Microscopy research and technique
- Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications /
- Ultramicroscopy