Deep Learning in the Phase Extraction of Electronic Speckle Pattern Interferometry

Αποθηκεύτηκε σε:

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Εκδόθηκε σε:	Electronics vol. 13, no. 2 (2024), p. 418
Κύριος συγγραφέας:	Jiang, Wenbo
Άλλοι συγγραφείς:	Ren, Tong, Fu, Qianhua
Έκδοση:	MDPI AG
Θέματα:	Optical components Phase unwrapping Deep learning Wavelet transforms Interferometry Speckle patterns Fourier transforms Biomedical materials Materials science Frequency ranges Speckle interferometry Algorithms Measurement techniques Deformation Diffraction patterns Light Image processing Electronic speckle pattern interferometry
Διαθέσιμο Online:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!