Deep Learning in the Phase Extraction of Electronic Speckle Pattern Interferometry

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Detalles Bibliográficos
Publicado en:	Electronics vol. 13, no. 2 (2024), p. 418
Autor principal:	Jiang, Wenbo
Otros Autores:	Ren, Tong, Fu, Qianhua
Publicado:	MDPI AG
Materias:	Optical components Phase unwrapping Deep learning Wavelet transforms Interferometry Speckle patterns Fourier transforms Biomedical materials Materials science Frequency ranges Speckle interferometry Algorithms Measurement techniques Deformation Diffraction patterns Light Image processing Electronic speckle pattern interferometry
Acceso en línea:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
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