A High-Performance Quadruple-Node-Upset-Tolerant Latch Design and an Algorithm for Tolerance Verification of Hardened Latches

Chi tiết về thư mục

Xuất bản năm:	Journal of Electronic Testing : (JETTA) vol. 40, no. 1 (Feb 2024), p. 45
Tác giả chính:	Xu, Hui
Tác giả khác:	Qin, Xuewei, Ma, Ruijun, Liu, Chaoming, Zhu, Shuo, Wang, Jun, Liang, Huaguo
Được phát hành:	Springer Nature B.V.
Những chủ đề:	Soft errors Algorithms Verification Integrated circuits Delay Power consumption Reliability Fault tolerance Tools Nodes Latches
Truy cập trực tuyến:	Citation/Abstract Full Text - PDF
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!