Rietveld Refinement of Electron Diffraction Patterns of Nanocrystalline Materials Using MAUD: Two-Beam Dynamical Correction Implementation and Applications

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Publié dans:	Materials vol. 18, no. 3 (2025), p. 650
Auteur principal:	Sinha, Ankur
Autres auteurs:	Valentino Abram, Lutterotti, Luca, Gialanella, Stefano
Publié:	MDPI AG
Sujets:	Nanostructured materials Crystallites Electron diffraction Fourier transforms Open source software Crystal defects Approximation Industrial applications Crystallography Algorithms Diffraction patterns Neutron diffraction Astigmatism
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