Rietveld Refinement of Electron Diffraction Patterns of Nanocrystalline Materials Using MAUD: Two-Beam Dynamical Correction Implementation and Applications

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Detalles Bibliográficos
Publicado en:	Materials vol. 18, no. 3 (2025), p. 650
Autor principal:	Sinha, Ankur
Otros Autores:	Valentino Abram, Lutterotti, Luca, Gialanella, Stefano
Publicado:	MDPI AG
Materias:	Nanostructured materials Crystallites Electron diffraction Fourier transforms Open source software Crystal defects Approximation Industrial applications Crystallography Algorithms Diffraction patterns Neutron diffraction Astigmatism
Acceso en línea:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
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