Dai, D., Wang, Z., Huang, H., Xu, M., Yehong, L., Li, H., & Chen, D. (2025). The RF–Absolute Gradient Method for Localizing Wheat Moisture Content’s Abnormal Regions with 2D Microwave Scanning Detection. Agriculture. https://doi.org/10.3390/agriculture15151649
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Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)
Dai, Dong, Zhenyu Wang, Hao Huang, Mao Xu, Liu Yehong, Hao Li, und Du Chen. "The RF–Absolute Gradient Method for Localizing Wheat Moisture Content’s Abnormal Regions with 2D Microwave Scanning Detection."
Agriculture 2025. https://doi.org/10.3390/agriculture15151649.
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MLA-Zitierstil (9. Ausg.)
Dai, Dong, et al. "The RF–Absolute Gradient Method for Localizing Wheat Moisture Content’s Abnormal Regions with 2D Microwave Scanning Detection."
Agriculture, 2025, https://doi.org/10.3390/agriculture15151649.
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