Dynamic Line Rating and Transformer-Life-Loss-Related Unit Commitment Under Extreme High-Temperature Conditions

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Detalles Bibliográficos
Publicado en:Electronics vol. 14, no. 20 (2025), p. 4027-4045
Autor principal: Zhou, Hong
Otros Autores: Lu, Liang, Yang, Ke, Shen, Li, Wen Yiyu, Wang, Qing
Publicado:
MDPI AG
Materias:
Acceso en línea:Citation/Abstract
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