ESD : failure mechanisms and models /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Voldman, Steven H.
Formato:	Recurso Eletrônico livro eletrônico
Idioma:	inglês
Publicado em:	Chichester, West Sussex, U.K. ; Hoboken, NJ : J. Wiley, 2009.
Assuntos:	Semiconductors > Failures. Integrated circuits > Protection. Integrated circuits > Testing. Integrated circuits > Reliability. Electric discharges. Electrostatics. Electronic books.
Acesso em linha:	https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/179897 Ver no OPAC
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