Obálka

ESD : failure mechanisms and models /

Uloženo v:
Hlavní autor: Voldman, Steven H.
Médium: Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:angličtina
Vydáno: Chichester, West Sussex, U.K. ; Hoboken, NJ : J. Wiley, 2009.
Témata:
Semiconductors > Failures.
Integrated circuits > Protection.
Integrated circuits > Testing.
Integrated circuits > Reliability.
Electric discharges.
Electrostatics.
Electronic books.
On-line přístup:https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/179897
Zobrazit v on-line katalogu
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Podobné jednotky: ESD :

Podobné jednotky