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Multiple boundary scan-paths for minimizing circuit-board test-application time

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Publicado no:Microprocessing and Microprogramming vol. 40, no. 6 (Jul 1994), p. 377-386
Autor principal: Antonakopoulos, Theodoros
Outros Autores: Kanopoulos, Nick
Publicado em:
Elsevier Sequoia S.A.
Assuntos:
Test equipment
Studies
Printed circuit boards
Mathematical models
Computer programming
Acesso em linha:Citation/Abstract
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