Multiple boundary scan-paths for minimizing circuit-board test-application time

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής

Εκδόθηκε σε:	Microprocessing and Microprogramming vol. 40, no. 6 (Jul 1994), p. 377-386
Κύριος συγγραφέας:	Antonakopoulos, Theodoros
Άλλοι συγγραφείς:	Kanopoulos, Nick
Έκδοση:	Elsevier Sequoia S.A.
Θέματα:	Test equipment Studies Printed circuit boards Mathematical models Computer programming
Διαθέσιμο Online:	Citation/Abstract
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!