Multiple boundary scan-paths for minimizing circuit-board test-application time
Guardado en:
| Udgivet i: | Microprocessing and Microprogramming vol. 40, no. 6 (Jul 1994), p. 377-386 |
|---|---|
| Hovedforfatter: | |
| Andre forfattere: | |
| Udgivet: |
Elsevier Sequoia S.A.
|
| Fag: | |
| Online adgang: | Citation/Abstract |
| Tags: |
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|