Multiple boundary scan-paths for minimizing circuit-board test-application time

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microprocessing and Microprogramming vol. 40, no. 6 (Jul 1994), p. 377-386
1. Verfasser:	Antonakopoulos, Theodoros
Weitere Verfasser:	Kanopoulos, Nick
Veröffentlicht:	Elsevier Sequoia S.A.
Schlagworte:	Test equipment Studies Printed circuit boards Mathematical models Computer programming
Online-Zugang:	Citation/Abstract
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