Multiple boundary scan-paths for minimizing circuit-board test-application time

Detalles Bibliográficos

Publicado en:	Microprocessing and Microprogramming vol. 40, no. 6 (Jul 1994), p. 377-386
Autor principal:	Antonakopoulos, Theodoros
Otros Autores:	Kanopoulos, Nick
Publicado:	Elsevier Sequoia S.A.
Materias:	Test equipment Studies Printed circuit boards Mathematical models Computer programming
Acceso en línea:	Citation/Abstract
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