The RF–Absolute Gradient Method for Localizing Wheat Moisture Content’s Abnormal Regions with 2D Microwave Scanning Detection

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Julkaisussa:Agriculture vol. 15, no. 15 (2025), p. 1649-1671
Päätekijä: Dai, Dong
Muut tekijät: Wang, Zhenyu, Huang, Hao, Xu, Mao, Liu Yehong, Li, Hao, Chen, Du
Julkaistu:
MDPI AG
Aiheet:
Linkit:Citation/Abstract
Full Text + Graphics
Full Text - PDF
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!