The RF–Absolute Gradient Method for Localizing Wheat Moisture Content’s Abnormal Regions with 2D Microwave Scanning Detection

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Detalles Bibliográficos
Publicado en:Agriculture vol. 15, no. 15 (2025), p. 1649-1671
Autor principal: Dai, Dong
Otros Autores: Wang, Zhenyu, Huang, Hao, Xu, Mao, Liu Yehong, Li, Hao, Chen, Du
Publicado:
MDPI AG
Materias:
Acceso en línea:Citation/Abstract
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