The RF–Absolute Gradient Method for Localizing Wheat Moisture Content’s Abnormal Regions with 2D Microwave Scanning Detection

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Argitaratua izan da:Agriculture vol. 15, no. 15 (2025), p. 1649-1671
Egile nagusia: Dai, Dong
Beste egile batzuk: Wang, Zhenyu, Huang, Hao, Xu, Mao, Liu Yehong, Li, Hao, Chen, Du
Argitaratua:
MDPI AG
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Citation/Abstract
Full Text + Graphics
Full Text - PDF
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!