Research on Optimal Down-Sampling Method of Segmental Beam Edge Based on Double Regions

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής

Εκδόθηκε σε:	Buildings vol. 15, no. 24 (2025), p. 4410-4426
Κύριος συγγραφέας:	Yang, Jiayan
Άλλοι συγγραφείς:	Hu, Zhihao, Li, Menghui, Jia Xingli, Guo Junheng
Έκδοση:	MDPI AG
Θέματα:	Deviation Accuracy Contours Methods Deep learning Surface area Algorithms Sampling Sampling methods Geometric accuracy Efficiency
Διαθέσιμο Online:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!