Research on Optimal Down-Sampling Method of Segmental Beam Edge Based on Double Regions

מידע ביבליוגרפי

הוצא לאור ב:	Buildings vol. 15, no. 24 (2025), p. 4410-4426
מחבר ראשי:	Yang, Jiayan
מחברים אחרים:	Hu, Zhihao, Li, Menghui, Jia Xingli, Guo Junheng
יצא לאור:	MDPI AG
נושאים:	Deviation Accuracy Contours Methods Deep learning Surface area Algorithms Sampling Sampling methods Geometric accuracy Efficiency
גישה מקוונת:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!