Research on Optimal Down-Sampling Method of Segmental Beam Edge Based on Double Regions

Библиографические подробности

Опубликовано в::	Buildings vol. 15, no. 24 (2025), p. 4410-4426
Главный автор:	Yang, Jiayan
Другие авторы:	Hu, Zhihao, Li, Menghui, Jia Xingli, Guo Junheng
Опубликовано:	MDPI AG
Предметы:	Deviation Accuracy Contours Methods Deep learning Surface area Algorithms Sampling Sampling methods Geometric accuracy Efficiency
Online-ссылка:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!