Research on Optimal Down-Sampling Method of Segmental Beam Edge Based on Double Regions

Détails bibliographiques

Publié dans:	Buildings vol. 15, no. 24 (2025), p. 4410-4426
Auteur principal:	Yang, Jiayan
Autres auteurs:	Hu, Zhihao, Li, Menghui, Jia Xingli, Guo Junheng
Publié:	MDPI AG
Sujets:	Deviation Accuracy Contours Methods Deep learning Surface area Algorithms Sampling Sampling methods Geometric accuracy Efficiency
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