Research on Optimal Down-Sampling Method of Segmental Beam Edge Based on Double Regions

Bibliografiset tiedot

Julkaisussa:	Buildings vol. 15, no. 24 (2025), p. 4410-4426
Päätekijä:	Yang, Jiayan
Muut tekijät:	Hu, Zhihao, Li, Menghui, Jia Xingli, Guo Junheng
Julkaistu:	MDPI AG
Aiheet:	Deviation Accuracy Contours Methods Deep learning Surface area Algorithms Sampling Sampling methods Geometric accuracy Efficiency
Linkit:	Citation/Abstract Full Text + Graphics Full Text - PDF
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!