Electrical overstress (EOS) : devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلف الرئيسي:	Voldman, Steven H.
التنسيق:	الكتروني كتاب الكتروني
اللغة:	الإنجليزية
منشور في:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
سلاسل:	ESD series
الموضوعات:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
الوصول للمادة أونلاين:	https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/185246 عرض في الأوباك
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!