Electrical overstress (EOS) : devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Hlavní autor:	Voldman, Steven H.
Médium:	Elektronický zdroj E-kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Edice:	ESD series
Témata:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
On-line přístup:	https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/185246 Zobrazit v on-line katalogu
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!