Electrical overstress (EOS) : devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

Полное описание

Библиографические подробности

Главный автор:	Voldman, Steven H.
Формат:	Электронный ресурс eКнига
Язык:	английский
Опубликовано:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
Серии:	ESD series
Предметы:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
Online-ссылка:	https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/185246 Просмотр в OPAC
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!