Electrical overstress (EOS) : devices, circuits and systems /

"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...

תיאור מלא

מידע ביבליוגרפי

מחבר ראשי:	Voldman, Steven H.
פורמט:	אלקטרוני ספר אלקטרוני
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Chichester, West Sussex, U.K. : John Wiley & Sons Inc., 2014.
סדרה:	ESD series
נושאים:	Semiconductors > Failures. Semiconductors > Protection. Transients (Electricity) Overvoltage. Electronic books.
גישה מקוונת:	https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/185246 Ver en el OPAC
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!