Electrical overstress (EOS) : devices, circuits and systems /
"Electrical Overstress (EOS) continues to impact semiconductor manufacturing, semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This bookteaches the fundamentals of electrical overstress and how to minimize and mitigate EOS failures. The text provides a clea...
-д хадгалсан:
| Үндсэн зохиолч: | |
|---|---|
| Формат: | Цахим Цахим ном |
| Хэл сонгох: | англи |
| Хэвлэсэн: |
Chichester, West Sussex, U.K. :
John Wiley & Sons Inc.,
2014.
|
| Цуврал: | ESD series
|
| Нөхцлүүд: | |
| Онлайн хандалт: | https://biblioteca.ues.edu.sv/acceso/elibro/?url=https%3A%2F%2Felibro.net%2Fereader%2Fbiblioues/185246 Нээлттэй каталог буюу OPAC дээр харах |
| Шошгууд: |
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|