Verification methods for complex-functional blocks in CAD for chips deep submicron design standards

التفاصيل البيبلوغرافية

الحاوية / القاعدة:	E3S Web of Conferences vol. 376 (2023), p. n/a
المؤلف الرئيسي:	Zolnikov, Vladimir
مؤلفون آخرون:	Zolnikov, Konstantin, Ilina, Nadezhda, Grabovy, Kirill
منشور في:	EDP Sciences
الموضوعات:	Russia Very large scale integration Design standards Verification Circuit design Integrated circuits Software Semiconductors Environmental
الوصول للمادة أونلاين:	Citation/Abstract Full Text - PDF
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!