Verification methods for complex-functional blocks in CAD for chips deep submicron design standards

Xehetasun bibliografikoak

Argitaratua izan da:	E3S Web of Conferences vol. 376 (2023), p. n/a
Egile nagusia:	Zolnikov, Vladimir
Beste egile batzuk:	Zolnikov, Konstantin, Ilina, Nadezhda, Grabovy, Kirill
Argitaratua:	EDP Sciences
Gaiak:	Russia Very large scale integration Design standards Verification Circuit design Integrated circuits Software Semiconductors Environmental
Sarrera elektronikoa:	Citation/Abstract Full Text - PDF
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!